在耐候性和耐光性測試中，選擇合適的 輻照度控制點 輻照度對于獲得準確的結果至關重要。輻照度以單位面積的光輻射功率表示，在測試標準中，輻照度被指定為特定波長或波長范圍內的量級。例如， ASTM G154 第一個紫外線照射周期要求 1 nm 時 0.89 W/m²/nm，而 ASTM G155 氙弧燈照射的第5個周期要求在1.10nm波長下達到420 W/m²/nm的輻射強度。一些標準使用全紫外（TUV，300-400nm）控制，甚至使用更寬的“紫外+可見光”范圍（300-800nm）。但問題是， 如何選擇最佳控制點?

在熒光紫外線測試中使用 QUV試驗機，窄帶控制波長取決于燈的類型。 UVA-340燈 峰值在 340 nm 附近，使其成為一個自然的控制點，而 UVB-313燈 控制在 310 nm 峰值，因為 313 nm 處的峰值是汞熒光粉的產物，可能并不總是代表燈的輻照度。 UVA-351燈盡管峰值接近 351 nm，但為了保持一致性和校準簡便性，仍控制在 340 nm，如 ISO 4892-3 第 5 個周期。 UVC-254 燈 將其所有輸出集中在 254 nm，因此控制波長的決定很簡單！ TUV-421燈 具有更寬的紫外區甚至可見光譜，因此選擇TUV（300-400nm）控制。

對于 Q-SUN氙弧試驗機，根據光學濾波器和測試焦點的目標來選擇窄帶控制點。 日光濾光片，用于通常對紫外線敏感的戶外材料，通常使用 340 nm 控制點，確保燈老化時紫外線區域的光譜穩定性。 窗口過濾器適用于受長波長紫外線或可見光影響的室內材料，通常使用 420 nm 控制點，因為 340 nm 處的輻照度可能較低。然而，也有一定的靈活性——日光濾光片可以使用 420 nm 控制，而窗口濾光片（窗口紅外除外）可以使用 340 nm，具體取決于應用。

表 1. 輻照度控制波長。雙綠色復選標記表示控制點可用且最常用 - 單個綠色復選標記表示控制點可用且有效，但不太常用。

TUV控制 （300–400 nm）提供了一種折衷方案，在 340 nm 和 420 nm 之間取得平衡，從而捕獲總紫外線輻照度。TUV 控制在許多 ISO 和歐洲標準中都有規定，當被測材料的光譜靈敏度未知時，這是一個不錯的選擇。所有 Q-SUN 測試儀均提供 340 nm、420 ??nm 和 TUV 控制；Xe-8 型號將這三種標準都作為板載傳感器陣列的一部分。

光譜功率分布 Q-Portal 上提供 Q-Lab 所有濾光片和燈的光譜功率譜密度 (SPD) 數據，可用于不同設定值之間的轉換。這些數據還可用于計算曝光時間，以達到特定的輻射曝光量（以 MJ 或 kJ 為單位）。

Q-Lab 不建議使用所謂的“紫外+可見光”或“全局”控制波長范圍（300-800 nm 或 300-3000 nm），原因如下。這兩個范圍都過于重視可見光和紅外光成分，而這些成分對材料耐久性的影響遠不如紫外光重要。此外，測量 1000 nm 以上的輻照度非常困難，這會給測量帶來額外的誤差。

總之，選擇輻照度控制點基于 燈或過濾器類型 和 材料的敏感性QUV 燈始終使用與其輸出相關的控制點。氙氣燈可以使用窄帶（340 nm 或 420 nm）或寬帶（TUV）輻照度進行控制，具體取決于測試標準